根据XRD测的数据如何计算薄膜的厚度

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.

拿BOPP薄膜来算吧,BOPP薄膜的密度是0.91那么0.91*薄膜的厚度（以微米来计量）就是每平米BOPP薄膜的克重比如40微米的BOPP薄膜,每平米的克重就是40*0.91每平米的克重有了,就可以

XRD可以吗?答：可以的!的确,应力分内应力和外应力,都可以用XRD定量测试.

单晶还是多晶做个TEM中的SAED电子衍射不就行了,是点阵就是单晶,是环状就是多晶,XRD上是不容易确定的.查看原帖

楼主,  X射线衍射法,对样品测试收费要远高于红外光谱的.如果你是单纯想测量薄膜的精确厚度,可以用红外光谱法（IR),精确度可达cm^(-1)量级.在红外光谱范围内,1000cm^

把这个半高宽的值代入到谢乐方程,注意角度与弧度的换算关系.谢乐方程里面的K就取0.89.郭亚平(站内联系TA)经XRD测量后得到图谱,根据图谱,可直接带入jade软件,计算衍射峰半高宽,峰强度,晶面间

?:tiger05:zbdfwq5777(站内联系TA)利用软件拟合XRD就可以.利用软件拟合XRD就可以.X'pertPlus,GSAS,TOPAS,Fullpro等程序都可以,但初学者估计有一点难

好像计算不了,根据谢乐公式,只能算到微米级!毫米级你用筛子一筛就知道了!

这个网页里有.因为里面的公式是以图片形式给出的,所以我就直接把网址给你了.

这不是衰减,是要去除仪器的宽化效应得到真实线性来计算再问：那这种曲线一般怎么得到？

你计算生成的是什么文件?ascii文件,可用记事本打开.再问：我是连接到其他性能比较牛x的计算机算的，算好之后只能得到一个.dta的文件再答：是dat文件吧.算完之后可以输出cas和dat文件，这样再

数据要用txt类型的文件保存.格式如下：11119.00022031.27231136.84622238.54840044.81042255.65651159.35844065.23653168.62

薄膜电池是趋势.其实薄膜电池效率较前两年已经有很大提高,加上价格低廉,现在越来越多地被业主接受了.光伏电站本来位置偏僻,不会太介意多占点空间来弥补转换效率上的不足.单晶硅电池虽然效率高,硅原料虽然不稀

可以用JADE软件分析,首先寻峰,然后根据d值进行定性分析,主要是与标准PDF卡片比对,d值误差一般小于0.02!

看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度（Int

离散度,应该就是可以用标准差来显示的每个数和平均数的差的平方相加再除以个数,最后开方比如A组59.5744680961.9469026561.6438356260.3903121260.8500280

origin的菜单栏有个一导入的功能的,导入你的数据出现一个excel表格,将你希望作为XY轴的数据确定后,选择相应的右键确定一下,在作图的窗口中就可以看到图行了

原理过程：先测出薄膜的表面电阻率（方块电阻）；再根据薄膜的厚度等因素,计算出薄膜的电阻率；再计算出薄膜的电导率.（是否为“质子电导率”,要有补充条件来说明）再问：方块电阻就是表面电阻率吗？可以采用这种

XRD数据怎么确定哪个峰是哪个晶面的?答：分两种情况：1,数据库中,有卡片,参照卡片,对应晶面；2,无卡片（新物质）,需要指标化,才能得到相应晶面.计算晶粒大小是用FWHM么?答：是的.但是谢乐公式有