X粉末衍射中如果强度不一致说明问题

X射线解析晶体结构的仪器有两种：粉末衍射仪和单晶衍射仪（小角度散射仪除外,不能解析晶体的结构）做材料的一般都用粉末衍射仪,而专门搞晶体的采用到单晶衍射仪.两者的功能区别很大的.普通的3kV粉末衍射仪大

《X射线衍射分析原理与应用》刘粤恵等 化学工业出版社 P72

样品颗粒大小对实验结果的影响为了比较充分地说明颗粒大小对测试结果的影响程度,我们选取了来自内蒙古巴丹吉林沙漠表层矿物试样作为分析对象.用日本理学(Rigaku)公司生产的D/Max2400型多晶X射线

figo9078(站内联系TA)粉末就可以测试,只有测试了才知道你的东西是否为晶体啊hana(站内联系TA)Originallypostedbytwtonlyat2011-06-0116:59:34:

不知道你为什么一直开机?但是如果只开高压没有电流,应该不会产生X射线.但是机器开着而且要产生高压,这样应该会产生电磁污染,所以我觉得还是离开机器远点吧.

直译：在一个带有“theta-theta”几何装置和铜制X射线管的转靶x射线粉末衍射仪上这么说更好理解一些：在一个转靶x射线粉末衍射仪上,该仪器含有theta-theta几何装置以及铜制的X射线管.至

“X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶衍射仪器".由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难.所以目前X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术.单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空

利用X射线粉末衍射图谱和数据,可以解析谱图获得样品的定性结论：是不是该物质,在新研制药品或仿制专利药已过保护期的药品的权威鉴定中常使用；经过严格的谱线解析与计算,可以定量分析得出被鉴定物的含量比例纯度

扫描范围、扫描速度、阶梯扫描中的时间常数和角度间隔参数,我所看到的是这些,

一、物相定性分析二、物相定量分析三、晶粒大小、晶粒畸变四、样品结晶度

对于X射线衍射谱图的解析,在计算衍射峰强度的过程中,有多个影响因素,结构因子F(hkl)只是其中应该影响因素.故,整个谱图各衍射峰的强度是不一样的.影响衍射强度各因子的物理意义：衍射线的强度能反映晶体

看这些课件吧http://www.baidu.com/s?tn=baiduadv&bs=filetype%3Appt+%22x%C9%E4%CF%DF%D1%DC%C9%E4%BC%BC%CA%F5%

合成的应该是目标化合物吧,之前应该有预测了吧只是需要再确定一下呗如果化合物结构已经很明确需要验证,一般氢谱＋质谱就ok了最多也就氢谱+碳谱+质谱你说的是X单晶衍射吧,这是在确定化合物绝对构型时候才会用

通常我们只要辨认出样品的粉末衍射图谱分别和哪些已知晶体的粉末衍射图“相关”,我们就可以判定该样品是由哪些晶体混和组成的.这里的“相关”包括两层含义：(1)样品的图中能找到组成物相对应出现的衍射峰,而且

问题不完整哦再问：结晶度测定可以吗再答：可以

谢谢你的这个向我的问题求助!在X射线衍射中,一个晶面的各级次衍射峰的相对强度比值是1:(1/2):(1/3):(1/n)吗?不!不是的!首先,衍射峰衍射强度的计算公式是由好多项组成,你说到的那些属于结

在X射线衍射谱中,低角度的衍射峰大都是晶面100,010,001,110,101,011,200,210,300,220,310,...,400,...等产生的,这些晶面的一级衍射光一般都比较强,并且

“X射线粉末衍射中分据相是什么?”问题的提出已经过去10天了,一直没有人回答,可见问题有一些难度.我查了“分据相”,也很少、几乎没有人使用这种说法和词语.因此,我估计“分据相”应该指的是“分离相”.X

通过垂直于波动传播方向的单位面积的平均能流称为平均能流密度,通常称为能流密度或波的强度.

x射线多晶衍射样品为什么常采用粉末样品?简言之,粉末样品中的每一个颗粒都已经包含了晶体立构的信息,样品在固定安装在谱仪样品台被X射线照射后,在照射区域范围内的粉末颗粒中,所有的不同晶面它们与X射线的掠