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半导体测试中,可以通过多次测试电容来获得电阻么?计算或者说换算公式是怎么样的?

来源:学生作业帮 编辑:百度作业网作业帮 分类:物理作业 时间:2024/05/15 23:32:02
半导体测试中,可以通过多次测试电容来获得电阻么?计算或者说换算公式是怎么样的?
半导体测试中,可以通过多次测试电容来获得电阻么?计算或者说换算公式是怎么样的?
通过对PN结的C-V测试可以得到PN结的掺杂浓度,通过相关报道的电阻率和掺杂浓度的关系可以计算电阻.要注意的是测试的结构中必须有带电容的结构,比如PN结比如肖特基结比如MOS电容,否则直接测一块掺杂的半导体是无法得到电容的.
再问: 额...可能表述不够清晰。比如多次测试得电容,如值为(C1.C2.C3.C4),可否告知R的转换关系。。。比如 R=(c1-c2)/(C3-C4),,,乱写的啊。
再答: 这样不行吧,电容的单位是法拉,电阻的单位是欧姆是两位不同的科学家的名字,其背后的物理含义也必然不同,如果非要两者关联,我能想到的关联就是掺杂浓度了。而且电容的测试一般都是分高频电容和低频电容,电阻的测试则是在样品上取四个点的四点测试法,两者在测试方法上也有本质区别。
再问: 我公式乱编的,肯定还有些常数和别的常数,因为我的专业跟半导体不搭边所以不知道。还是谢谢你!